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CTLD-450型热释光辐照食品检测仪

CTLD-450热释光辐照食品检测仪

简介

辐照食品鉴定是利用电离辐射与食品相互作用产生的物理、化学和生物反应的可检测性而建立的鉴定辐照食品的方法。

CTLD-450型热释光辐照食品检测仪用于从辐照食品、添加剂中提取的硅酸盐矿物质样品的剂量测量, 满足国家标准《个人和环境监测用热释光剂量测量系统》(GB 10264)规定的要求(专利产品)

 

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CTLD-450型热释光辐照食品检测仪


特点

◇ 灵敏度自动调节,在测量过程中无需调节高压;

升降电加热系统,采用移动式加热盘,测量后可直接将装有样品的加热盘取下来,进行照射、称重;

◇ 大剂量测量:对样品量无需限制;

◇ 曲线显示、存储、分析:适时在一个界面上将测量曲线(辐照前计数、辐照前本底、辐照后计数、辐照后本底)显示出来、自动存储发光曲线,可对曲线进行比较分析;

自动校准、中文菜单、数据库编译/检索、发光曲线显示/存储、数据打印、条码扫描、模块结构、性能稳定可靠、维修简便;

电容式触摸按键:上、下、左、右、确认、取消、菜单;

◇ 双抽屉结构:食品中提取的硅酸盐矿物质为颗粒状,测量时样品中的杂质会对光测量系统造成污染,可拉出侧抽屉,清洁光测量系统,清洁后推入抽屉即可测量;

读出器采用模块结构具有整体性好、外形美观、性能可靠、维修简便等特点。

 


主要技术指标

◇ 测量系统稳定性:≤0.1%

◇ 加热参数设置:储存十组加热参数,可根据需要改变参数设置;

◇ 剂量线性测量范围: 10-7Gy ~30Gy;

◇ 测量系统精度:≤±0.1%±0.06%

◇ 长期稳定性: 0.05%0.3%

◇ 灵敏度重复性的变化系数:≤0.1%±0.05%/℃;

◇ 加热时间重复性:≤0.1%

◇ 加热温度范围:0~450℃;

◇ 加热速率:1~40℃·s-1

◇ 加热温度重复性:≤1%

◇ 加热温度偏差:≤±1℃;

◇ 外形尺寸(W×D×H): 440mm(最大450)×300mm×440mm

◇ 重量:≤25kg

◇ 储存温度:-10~50℃;

 工作温度:0~40℃

◇ 相对湿度:≤90%

◇ 电    源:220V±10%, 50Hz

 

系统配置

CTLD-450型热释光辐照食品检测仪

打印机

计算机

应用软件(测量、数据库、曲线分析)

工具盒(样品盘、镊子)

航空包装箱

 


 

控制面板

 

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界面(举例)

开机界面

 

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菜单界面

 

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待机测量界面

 

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应用软件界面

 

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